主要特点

双向扫描速度最高可达 200 纳米/秒

优秀的 SSSER

六款型号，波长范围涵盖 1240 纳米至 1680 纳米

波长调谐和连续扫描模式

主动模式无跳频操作

应用程序

无源光学元件

光子集成电路

用于研发的多用途可调谐激光器

高速光子集成电路（PIC）测试

集成光子学可以包含具有高对比度光谱的复杂光学元件。例如，环形谐振器可能具有非常尖锐的特征，导致插入损耗难以表征。除了插入损耗之外，一些器件还需要以相同的精度进行回波损耗或偏振相关损耗的扩展测量。此外，为了加快光子集成电路（PIC）的表征速度，还需要同时测试多个器件或单个器件的输出。为了测试此类器件，T200S 激光器可以与EXFO 的元件测试平台CTP10配合使用。CTP10 具有高分辨率和高精度的光谱测量能力， 是一个集成解决方案，可以充分发挥 T200S 的潜力，实现 200 nm/s的 扫描速度。T200S 也兼容 EXFO 的紧凑型元件测试仪CT440，其扫描速度为 100 nm/s。