BSA175C 泰克Tektronix 误码仪
关键性能指标
模式生成与误差分析,高速误码率测量,最高可达 28.6 Gb/s
用于精确信号完整性分析的快速输入上升时间/高输入带宽误差检测器
物理层测试套件,包含掩模测试、抖动峰值、误码率轮廓和Q因子分析,可使用标准或用户自定义的抖动容限模板库进行全面测试
结合误码率相关性的眼图分析
可选的抖动图全面抖动分解 - 适用于长模式(例如 PRBS-31)抖动
专利的“错误定位分析™”功能可帮助您快速了解误码率 (BER) 性能瓶颈,评估确定性错误与随机错误,执行详细的模式相关错误分析、突发错误分析或无错误间隔分析。
主要特点
集成式、校准式应力生成装置,可满足各种标准对受压接收机灵敏度和时钟恢复抖动容限的测试要求。
正弦抖动高达 100 MHz
随机抖动
有界、不相关的抖动
正弦干扰
扩频时钟
PCIe 2.0 和 3.0 接收器测试
8xFC 和 10GBASE-KR 测试的 F/2 抖动生成
IEEE802.3ba 和 32G 光纤通道测试
电刺激眼部测试
PCI Express
10/40/100 Gb 以太网
SFP+/SFI
OIF/IEC
光纤通道(FC8、FC16、FC32)
小时
USB 3.1
InfiniBand(SDR、QDR、FDR、EDR)
公差合规性模板测试及裕度测试
结合误码率相关性的眼图分析
应用程序
设计验证包括信号完整性、抖动和时序分析
高速、复杂设计的特性分析
串行数据流和高性能网络系统的认证测试
高速I/O组件和系统的设计/验证
信号完整性分析——掩模测试、抖动峰值、误码率轮廓、抖动图和Q因子分析
光收发器的设计/验证
链接域
眼图一直以来都能以简单直观的方式展现数字性能。然而,由于用于呈现两者性能的仪器在架构上存在根本差异,因此很难将眼图与误码率 (BER) 性能直接关联起来。眼图所包含的数据量较浅,难以发现罕见事件。而误码率测试仪 (BERT) 则对每个比特进行计数,因此能够基于更丰富的数据集提供测量结果,但却缺乏直观的信息呈现方式,不利于故障排除。

